- 品名:梅特勒-托利多分析天平 XP105DR
- 產地:瑞士
- 毛重:0公斤
梅特勒-托利多 分析天平 XP105DR
梅特勒-托利多 分析天平 XP105DR 技術指標
可讀性 |
0.1mg |
精細量程的最大稱量值 |
31g |
最大稱量值 |
120g |
重復性 正常加載 |
0.06mg(100g) |
重復性 -低加載 |
0.05mg(10g) |
重復性:精細量程微量加載 |
0.015mg(10g) |
線性 |
0.15mg |
靈敏度漂移 |
4x10-6 |
靈敏度溫度漂移(10-30°C) |
1x10-6/°C |
接口更新速率 |
23/s |
天平外型尺寸(W×D×H mm) |
263×486.5×322 |
秤盤尺寸(W×D mm) |
76×73 |
梅特勒-托利多分析天平XP105DR
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146、147室
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